片上内存高危地址压测

测试项功能

对高带宽内存高危地址进行压力测试，并输出诊断结果。

表1 诊断项说明
诊断项名称	参考耗时	是否影响NPU训练或推理	使用场景
片上内存高危地址压测	≤17min	是	片上内存诊断结果出现单比特或多比特错误。

片上内存压测和片上内存诊断有不同的使用场景，具体请参见表1。请根据实际使用场景选择执行片上内存压测或片上内存诊断。
若想同时使用片上内存诊断、片上内存压测、片上内存高危地址压测请执行一键式片上内存压测诊断。

测试项特定参数查询

各参数解释如表2所示，表格内仅展示测试项特定参数，其余公共参数请参见公共参数说明。

表2 参数说明
参数	说明	是否必填
[-i, --items]	指定具体的诊断检查项。当前支持指定的诊断项为hbm/chipMemory，hbm和chipMemory不能同时指定。	是
[-qs, --qs, --quick stress]	指定高带宽内存高危地址快速压测的范围。该参数取值范围为[0，100]。参数推荐值：100。取值为0时，默认对所有高带宽内存地址进行快速压测。需要在包含hbm诊断检查项的场景下，与[-s, --stress]配合使用，不能和[-st, --st, --stress-time]、[--sc, --stress-count]同时使用。	是

使用实例

以指定压测范围取值为100为例：

ascend-dmi -dg -i hbm -s -qs 100 -q

[***@***]# ascend-dmi -dg -i hbm -s -qs 100 -q
Stress test is being performed, please wait.
Summary:
    Arch: aarch64
    Mode: ******
    Time: 20250529-19:37:16
 
Hardware:
    hbm:
        PASS

故障检查项说明

表3 故障检查项说明
回显状态	含义
PASS	高带宽内存高危地址快速压测通过，无新增隔离页数。
SKIP	当前设备不支持片上内存高危地址压测。
FAIL	高带宽内存高危地址快速压测失败，有新增隔离页数。

父主题： 压力测试场景