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title: 设备device侧内存不足导致片上内存压测失败-昇腾社区
description: (待补充)
keywords: MindCluster ToolBox;片上内存;内存;Ascend DMI
url: https://www.hiascend.com/document/caselibrary/detail/toolboxcase_0075
section: (其他)
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# 设备device侧内存不足导致片上内存压测失败-昇腾社区

URL: https://www.hiascend.com/document/caselibrary/detail/toolboxcase_0075
描述: (待补充)
关键词: MindCluster ToolBox;片上内存;内存;Ascend DMI

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设备device侧内存不足导致片上内存压测失败

设备device侧内存不足导致片上内存压测失败

2025/01/21

2k

问题信息

| 问题来源 | 产品大类 | 产品子类 | 关键字 |
| --- | --- | --- | ---|
| 官方 | 性能测试 | 故障诊断 | MindCluster ToolBox、片上内存、内存、Ascend DMI |

#### 问题现象

Ascend DMI工具执行片上内存压力测试失败，提示Error occurred in HBM stress test on device 0， 日志报错aclrtMalloc failed, error code: 207001。

/var/log/ascend-dmi/ascend-dmi.log中打印：

#### 可能原因

设备内存不足或设备内存被占用。

#### 解决措施

1. 执行npu-smi info查看内存是否被占用，如下即为被占完：
2. 等待内存释放或执行如下命令复位芯片释放内存：

```
npu-smi set -t reset -i $i -c 0                //请将$i替换为指定设备ID
```

图1命令示例

本页内容

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- 可能原因
- 解决措施