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title: 片上内存高危地址压测
description: "对高带宽内存高危地址进行压力测试，并输出诊断结果。"
url: https://www.hiascend.com/document/detail/zh/mindcluster/latest/toolbox/toolboxug/toolboxug_0150.html
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# 片上内存高危地址压测

#### 测试项功能

对高带宽内存高危地址进行压力测试，并输出诊断结果。


**表1 诊断项说明**

| 诊断项名称 | 使用昇腾950PR&950DT系列产品完成一轮压测的参考耗时 | 使用其他产品完成一轮压测的参考耗时 | 是否影响NPU训练或推理 | 使用场景 |
| --- | --- | --- | --- | --- |
| 片上内存高危地址压测 | 1min~2h | ≤22min | 是 | 片上内存诊断结果出现单比特或多比特错误。 |


- 片上内存压测和片上内存诊断有不同的使用场景，具体请参见  表1
。请根据实际使用场景选择执行片上内存压测或片上内存诊断。
- 若想同时使用片上内存诊断、片上内存压测、片上内存高危地址压测请执行  一键式片上内存压测诊断
。


#### 测试项特定参数查询

各参数解释如表2所示，表格内仅展示测试项特定参数，其余公共参数请参见公共参数说明。


**表2 参数说明**

| 参数 | 说明 | 是否必填 |
| --- | --- | --- |
| [\-i, \-\-items] | 指定具体的诊断检查项。 当前支持指定的诊断项为hbm/chipMemory，hbm和chipMemory不能同时指定。 | 是 |
| [\-qs, \-\-qs, \-\-quick\-stress] | 指定高带宽内存高危地址快速压测的范围。 该参数取值范围为[0，100]，数值越大，范围越广。参数推荐值：100。 取值为0时，默认对所有高带宽内存地址进行快速压测。 需要在包含hbm诊断检查项的场景下，与[\-s, \-\-stress]配合使用，不能和[\-st, \-\-st, \-\-stress\-time]、[\-\-sc, \-\-stress\-count]同时使用。 | 是 |


#### 使用示例

以指定压测范围取值为100为例：

ascend-dmi -dg -i hbm -s -qs 100 -q

```
[***@***]# ascend-dmi -dg -i hbm -s -qs 100 -q
Stress test is being performed, please wait.
Summary:
    Arch: aarch64
    Mode: ******
    Time: 20250529-19:37:16
 
Hardware:
    hbm:
        PASS
```


#### 故障检查项说明


**表3 故障检查项说明**

| 回显状态 | 含义 |
| --- | --- |
| PASS | 高带宽内存高危地址快速压测通过，无新增隔离页数。 |
| SKIP | 该产品/场景不支持片上内存高危地址压测功能。 |
| FAIL | 高带宽内存高危地址快速压测失败，有新增隔离页数。 |