A200(非A200DK)高低温老化测试系统启动失败
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A200(非A200DK)高低温老化测试系统启动失败
t('forum.solved') 已解决
发表于2023-03-23 15:09:57
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A200信息:A200模块(非A200DK),RC场景,TF卡启动,TF卡使用海康128G TF卡。

问题描述:A200在做高低温老化测试时(-40摄氏度,70摄氏度),出先网络不通的情况(出现两例),使用串口排查,发现系统启动失败,最后打印如下,串口详细输出见附件。

cke_5326.png

补充:将TF卡挂载在服务器上,发现分区1、分区2可挂载,分区3挂载时报错,报错信息如下。

cke_23785.png

本帖最后由 匿名用户2023/03/23 15:31:05 编辑

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